Mikroskopie
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Mikroskope |
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Carl Zeiss – Axio A1m Imager Lichtmikroskop |
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| Carl Zeiss – Axio M1m Imager
Lichtmikroskop mit quantitativer Bildanalyse zur optischen Charakterisierung |
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| Carl Zeiss – SteREO
Stereomikroskop zur dreidimensionalen Oberflächencharakterisierung |
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| FEI – Helios NanoLab 600i FIB Workstation
Hochauflösendes Rasterelektronenmikroskop mit Feldemissionsquelle und integrierter FIB-Technik zur in-situ Probenpräparation |
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Grosskammer-Rasterelektronenmikroskop In-situ Betrachtung von Verformungen und Schadensanalyse an großformatigen Bauteilen |
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Olympus – Lext OLS 4000 Konfokale Lasermikroskopie zur berührungslosen Oberflächencharakterisierung |
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NT-MDT – Solver Pro SPM Platform Topologische Charakterisierung nanoskaliger Materialien |
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