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Mikroskopie

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Mikroskope

Carl Zeiss – Axio A1m Imager

Lichtmikroskop

Carl Zeiss – Axio M1m Imager

Lichtmikroskop mit quantitativer Bildanalyse zur optischen Charakterisierung

Carl Zeiss – SteREO

Stereomikroskop zur dreidimensionalen Oberflächencharakterisierung

FEI – Helios NanoLab 600i FIB Workstation

Hochauflösendes Rasterelektronenmikroskop mit Feldemissionsquelle und integrierter FIB-Technik zur in-situ Probenpräparation

Grosskammer-Rasterelektronenmikroskop

In-situ Betrachtung von Verformungen und Schadensanalyse an großformatigen Bauteilen

Olympus – Lext OLS 4000

Konfokale Lasermikroskopie zur berührungslosen Oberflächencharakterisierung

NT-MDT – Solver Pro SPM Platform

Topologische Charakterisierung nanoskaliger Materialien